XDGS01/02光栅尺|光学尺（增量式）
XDGS01/02光栅尺|光学尺测量原理：栅尺采用增量测量法，增量测量法的光栅是周期性的光栅刻线。位置信息是通过计算自某点开始的增量数测量步距获得的。由于必须用绝对参考点确定位置值，因此在光栅尺上还刻有一个带参考点的轨道。参考点确定的光栅尺绝对位置值可以精确到一个测量步距。因此必须通过参考点来建立绝对参考点或定为原点。光栅尺每隔50毫米就有一个参考点，客户还可以据自己设备的特点定制参考点的位置。
产品参数
※可根据客户需求定制薄款或者厚款
※外壳使用坚硬的铝合金
※分辨率 ：0.5μm，1μm，5μm
※行程 ：50-1100mm （薄尺）
：50-3200mm （厚尺）
※接口信号 ：TTL 5V , RS422 , HTL24V
※工作电压 ：5VDC,24VDC
※精 度 ：±（3+3L0/1000）μm
※工作温度 ：0至40℃
※存储温度 ：-20至50℃
※工作速度 ：30m/min
※光栅栅距 ：20μm
※RI ：每隔50mm有一个RI
产品详情
XDGS01/02光栅尺|光学尺
